STM32L433CCU6 official STMicroelectronics UFQFPN-48(7X7) package image
STM32L433CCU6 official STMicroelectronics UFQFPN-48(7X7) package image
ST

STM32L433CCU6 - STMicroelectronics Vi điều khiển

Còn hàng
(0)
148.000₫
Giảm giá theo số lượng
QuantityUnit Price
1+6₫
10+5₫
30+4₫
260+4₫
520+4₫
1040+4₫
Sau khi bạn đặt hàng, đội ngũ bán hàng của chúng tôi sẽ gửi văn bản xác nhận về giá cuối cùng, phí vận chuyển và thời gian giao hàng ước tính. Thuế nhập khẩu, thuế, phí môi giới và các khoản phí đích khác là trách nhiệm của khách hàng. Khi cần, chúng tôi có thể hỗ trợ thông tin sản phẩm có sẵn và hồ sơ hải quan để khai báo nhập khẩu; thủ tục hải quan cuối cùng và thanh toán vẫn là trách nhiệm của khách hàng.

Mạch tích hợp

STM32L433CCU6

ARM Cortex-M4 32 Bit 80MHz 38 UFQFPN-48(7x7) Vi điều khiển RoHS

Còn hàng UFQFPN-48(7x7) bình thường
Nhà sản xuấtST
GóiUFQFPN-48(7x7)
Tồn kho2137
Đóng góiKhay

Thông tin cơ bản

Nhà sản xuất ST
Mã linh kiện của nhà sản xuất STM32L433CCU6
Mô tả ARM Cortex-M4 32 Bit 80MHz 38 UFQFPN-48(7x7) Vi điều khiển RoHS
Danh mục IC Vi điều khiển
Gói UFQFPN-48(7x7)
Đóng gói Khay
Số lượng đóng gói tiêu chuẩn 260
Tồn kho khả dụng 2137
Trạng thái vòng đời bình thường

Thông số kỹ thuật chính

Loại bộ nhớ chương trình FLASH
Kích thước lõi 32 Bit
Số lượng I/O 38

Thuộc tính kỹ thuật

Tốc độ tối đa của CPU 80MHz
Loại dao động Tích hợp

Tài liệu & Tài nguyên kỹ thuật

Tồn kho và giá được cập nhật thường xuyên. Dữ liệu kỹ thuật được cung cấp để tham khảo cho kỹ thuật.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

Manufacturer names and logos are used for product identification and navigation. Their display does not imply authorization, affiliation or endorsement. Availability is confirmed per quotation.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles