TMS320F28377DZWTT - Texas Instruments Vi điều khiển

Còn hàng
Mã hàng: TMS320F28377DZWTT-NFBGA-337
Giá thông thường 473.000₫
Sau khi bạn đặt hàng, đội ngũ bán hàng của chúng tôi sẽ gửi văn bản xác nhận về giá cuối cùng, phí vận chuyển và thời gian giao hàng ước tính. Thuế nhập khẩu, thuế, phí môi giới và các khoản phí đích khác là trách nhiệm của khách hàng. Khi cần, chúng tôi có thể hỗ trợ thông tin sản phẩm có sẵn và hồ sơ hải quan để khai báo nhập khẩu; thủ tục hải quan cuối cùng và thanh toán vẫn là trách nhiệm của khách hàng.

TMS320F28377DZWTT

C28x C2000 C28x Delfino, IC vi điều khiển An toàn Chức năng (FuSa) 32-Bit Hai nhân 200MHz 1MB (512K x 16) FLASH 337-NFBGA (16x16)

Tồn kho khả dụng: 12NFBGA-337Đang hoạt động
Nhà sản xuấtTexas Instruments
GóiNFBGA-337
Tồn kho12
Gói tiêu chuẩn90

Thông tin cơ bản

Nhà sản xuất Texas Instruments
Mã sản phẩm của nhà sản xuất TMS320F28377DZWTT
Danh mục IC Vi điều khiển
Gói NFBGA-337
Trạng thái vòng đời Đang hoạt động

Thuộc tính kỹ thuật

Có thể lập trình Chưa xác minh
Bộ xử lý lõi C28x
Kích thước lõi 32-Bit Hai nhân
Tốc độ 200MHz
Kết nối CANbus, EBI/EMI, I2C, McBSP, SCI, SPI, uPP, UART/USART, USB
Ngoại vi DMA, POR, PWM, WDT
Số lượng I/O 169
Kích thước bộ nhớ chương trình 1MB (512K x 16)
Loại bộ nhớ chương trình FLASH
Kích thước EEPROM -
Kích thước RAM 102K x 16
Điện áp - Nguồn cung cấp (Vcc/Vdd) 1.14V ~ 3.47V
Bộ chuyển đổi dữ liệu A/D 24x12b, 12x16b; D/A 3x12b
Loại dao động Nội bộ
Nhiệt độ hoạt động -40 degC ~ 105 degC (TJ)
Kiểu gắn Gắn trên bề mặt
Gói thiết bị của nhà cung cấp 337-NFBGA (16x16)
Gói / Vỏ 337-LFBGA

Tồn kho và giá cả được cập nhật thường xuyên. Dữ liệu kỹ thuật được cung cấp để tham khảo cho kỹ thuật.

Datasheet PDF

Mở datasheet PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles