CAT25M02VI-GT3-TUDI - Tudi Minne (IC-er)

In stock
Regular price $3.75
Volumrabatter
QuantityUnit Price
1+$3.75
10+$3.20
30+$2.88
100+$2.55
500+$2.40
1000+$2.34
Etter at du har lagt inn en bestilling, sender salgsteamet vårt skriftlig bekreftelse på den endelige prisen, fraktkostnader og estimert leveringstid. Importavgifter, skatter, megleravgifter og andre destinasjonsgebyrer er kundens ansvar. Ved behov kan vi bistå med tilgjengelig produktinformasjon og tolldokumenter for importdeklarasjon; endelig fortolling og betaling forblir kundens ansvar.

Integrert krets

CAT25M02VI-GT3-TUDI

2Mbit 2.8V~5.5V 2MHz SPI SOP-8 Memory (ICs) RoHS

På lager SOP-8 normal
Enhetspris$3.7467
På lager
ProdusentTudi
PakkeSOP-8
Lager1000
PakkeTape & Reel (TR)

Grunnleggende informasjon

Produsent Tudi
Produsentens delenummer CAT25M02VI-GT3-TUDI
Beskrivelse 2Mbit 2.8V~5.5V 2MHz SPI SOP-8 Memory (ICs) RoHS
IC-kategori Memory (ICs)
Pakke SOP-8
Emballasje Tape & Reel (TR)
Standard pakkeantall 2500
Tilgjengelig lager 1000
Tilgjengelighet På lager
Livssyklusstatus normal

Nøkkelspesifikasjoner

Minne størrelse 2Mbit
Spenning - forsyning 2.8V~5.5V
Driftstemperatur -40℃~+85℃
Klokkefrekvens 2MHz
Aksesstid -
Egenskaper Funksjon for maskinvarebeskyttelse av skriving;Innebygd power-on reset (POR);Innebygd feilkorrigeringskode (ECC)-funksjon;Innebygd skriveaktiveringslås (WEL)
Datalagring - TDR (år) 100 Years

Tekniske attributter

Strøm - forsyning 3mA
Skrivesyklustid (tWC) 8ms
Hvilemodus forsyningsstrøm 5uA
Grensesnitt SPI
Skrivesyklus utholdenhet 1,000,000 cycles

Dokumenter & ingeniørressurser

Lagerbeholdning, ledetid og priser oppdateres jevnlig. Tekniske data er gitt for ingeniørreferanse.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles