F2950NEGK8 DFN-6 standard package reference
F2950NEGK8 DFN-6 standard package reference
Renesas Electronics

F2950NEGK8 - Renesas Electronics RF-integrerte kretser

In stock
SKU: F2950NEGK8-DFN-6
(0)
$2.00
Etter at du har lagt inn en bestilling, sender salgsteamet vårt skriftlig bekreftelse på den endelige prisen, fraktkostnader og estimert leveringstid. Importavgifter, skatter, megleravgifter og andre destinasjonsgebyrer er kundens ansvar. Ved behov kan vi bistå med tilgjengelig produktinformasjon og tolldokumenter for importdeklarasjon; endelig fortolling og betaling forblir kundens ansvar.

F2950NEGK8

69dBm 8GHz 270ns SP2T 1 100MHz 32dB 8GHz 0.9dB 0.73dB 50Ohm 40dBm DFN-6 overflatemontert 1.5mm*1.5mm*550µm

Tilgjengelig lager: 3000DFN-6Utgått
ProdusentRenesas Electronics
PakkeDFN-6
Lager3000
Standardpakning-

Priser og bestilling

Enhetspris$2.0001

Grunnleggende informasjon

Produsent Renesas Electronics
Produsentens delenummer F2950NEGK8
IC-kategori RF-integrerte kretser
Pakke DFN-6
Livssyklusstatus Utgått

Tekniske egenskaper

Topologi Reflekterende
Krets SP2T
Frekvensområde 100MHz ~ 8GHz
Isolasjon 30dB
Innsettingsdempning 0.73dB
Testfrekvens 8GHz
P1dB 40dBm
IIP3 69dBm
Egenskaper -
Impedans 50Ohm
Spenning - forsyning 2.7V ~ 5.5V
Driftstemperatur -40 degC ~ 105 degC
Monteringstype Overflatemontering
Kapsel / pakke 6-UFDFN Exposed Pad
Leverandørens enhetskapsel 6-DFN (1.5x1.5)

Lager og priser oppdateres jevnlig. Tekniske data er oppgitt som referanse for ingeniørfaglig bruk.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

Manufacturer names and logos are used for product identification and navigation. Their display does not imply authorization, affiliation or endorsement. Availability is confirmed per quotation.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles