UCC27201ADRMT - Texas Instruments RF-geïntegreerde schakelingen

In stock
SKU: UCC27201ADRMT-SON
Regular price €0,95
Nadat u een bestelling heeft geplaatst, stuurt ons verkoopteam een ​​schriftelijke bevestiging van de uiteindelijke prijs, verzendkosten en geschatte levertijd. Invoerrechten, belastingen, makelaarskosten en andere bestemmingskosten zijn de verantwoordelijkheid van de klant. Indien nodig kunnen wij u helpen met beschikbare productinformatie en douanedocumenten voor aangifte ten invoer; de uiteindelijke inklaring en betaling blijven de verantwoordelijkheid van de klant.

UCC27201ADRMT

8ns 2 8V 50ns 17V 800mV, 2.5V niet-inverterende MOSFET, N 7ns 3A, 3A SON oppervlaktemontage, lijmmontage 4mm*4mm*900µm

Beschikbare voorraad: 34340SONVerouderd
FabrikantTexas Instruments
PakketSON
Voorraad34340
Standaardverpakking250

Prijzen & bestellen

Prijs per stuk$0.9309

Basisinformatie

Fabrikant Texas Instruments
Fabrikant-onderdeelnummer UCC27201ADRMT
IC-categorie RF-geïntegreerde schakelingen
Pakket SON
Levenscyclusstatus Verouderd

Technische kenmerken

Programmeerbaar Niet geverifieerd
Aangestuurde configuratie Half-brug
Kanaaltype Onafhankelijk
Aantal drivers 2
Poorttype MOSFET (N-kanaal)
Spanning - Voeding 8V ~ 17V
Logische spanning - VIL, VIH 0.8V, 2.5V
Stroom - Piekuitgang (Source, Sink) 3A, 3A
Ingangstype Niet-inverterend
High Side-spanning - Max (Bootstrap) 120 V
Stijg-/Daaltijd (Typ) 8ns, 7ns
Bedrijfstemperatuur -40 degC ~ 140 degC (TJ)
Montagetype Oppervlaktemontage
Behuizing / Case 8-VDFN Exposed Pad
Leveranciersapparaatbehuizing 8-VSON (4x4)

Voorraad en prijzen worden regelmatig bijgewerkt. Technische gegevens zijn bedoeld als technische referentie.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles