M24M01-RMN6TP-TUDI - Tudi Muisti (IC-piirit)

In stock
Regular price €0,95
Volyymi-alennukset
QuantityUnit Price
1+€0,68
10+€0,55
30+€0,48
100+€0,41
500+€0,36
1000+€0,34
Kun olet tehnyt tilauksen, myyntitiimimme lähettää kirjallisen vahvistuksen lopullisesta hinnasta, toimituskuluista ja arvioidusta toimitusajasta. Tuontitullit, verot, välityspalkkiot ja muut kohdemaksut ovat asiakkaan vastuulla. Autamme tarvittaessa saatavilla olevien tuotetietojen ja tuonti-ilmoitusten tulliasiakirjojen kanssa; Lopputullaus ja maksu jäävät asiakkaan vastuulle.

Integroitu piiri

M24M01-RMN6TP-TUDI

1Mbit 1.8V~5.5V 1MHz I2C SOP-8 Muisti (IC:t) RoHS

Varastossa SOP-8 normaali
Yksikköhinta$0.6764
Varastossa
ValmistajaTudi
PakettiSOP-8
Varasto6742
PakkausTape & Reel (TR)

Perustiedot

Valmistaja Tudi
Valmistajan osanumero M24M01-RMN6TP-TUDI
Kuvaus 1Mbit 1.8V~5.5V 1MHz I2C SOP-8 Muisti (IC:t) RoHS
IC-luokka Muisti (IC:t)
Paketti SOP-8
Pakkaus Tape & Reel (TR)
Vakiopakkausmäärä 2500
Saatavilla oleva varasto 6742
Saatavuus Varastossa
Elinkaaren tila normaali

Keskeiset tekniset tiedot

Muistin koko 1Mbit
Jännite - syöttö 1.8V~5.5V
Käyttölämpötila -40℃~+85℃
Kellotaajuus 1MHz
Käyttöaika 0.9us;0.45us
Ominaisuudet Laitteistopohjainen kirjoitussuojatoiminto;Sisäänrakennettu virheenkorjauskoodi (ECC) -toiminto;Kohinanvaimennustoiminto
Tietojen säilyvyys - TDR (vuotta) 100 vuotta

Tekniset ominaisuudet

Virta - syöttö 0.28mA
Kirjoitussyklin aika (tWC) 5ms
Valmiustilan syöttövirta 0.03uA
Kirjoitussyklin kestävyys 1,000,000 sykliä
Liitäntä I2C

Asiakirjat & suunnitteluresurssit

Varastotiedot, toimitusaika ja hinnoittelu päivitetään säännöllisesti. Tekniset tiedot on tarkoitettu suunnittelun tueksi.

Datasheet

Lataa PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles