UCC23513DWYR - Texas Instruments RF-integroidut piirit

In stock
SKU: UCC23513DWYR-SOIC-6
Regular price €0,95
Kun olet tehnyt tilauksen, myyntitiimimme lähettää kirjallisen vahvistuksen lopullisesta hinnasta, toimituskuluista ja arvioidusta toimitusajasta. Tuontitullit, verot, välityspalkkiot ja muut kohdemaksut ovat asiakkaan vastuulla. Autamme tarvittaessa saatavilla olevien tuotetietojen ja tuonti-ilmoitusten tulliasiakirjojen kanssa; Lopputullaus ja maksu jäävät asiakkaan vastuulle.

UCC23513DWYR

28ns 1 14V 70ns(Typ) 33V 0.8V/2V powerinput IGBT 25ns(Max) 15A SOIC-6 surface mount, adhesive mount 3.55mm(high)

Saatavilla oleva varasto: 120SOIC-6Aktiivinen
ValmistajaTexas Instruments
PakettiSOIC-6
Varasto120
Vakiopakkaus850

Hinnoittelu & Tilaus

Yksikköhinta$0.5607

Perustiedot

Valmistaja Texas Instruments
Valmistajan osanumero UCC23513DWYR
IC-luokka RF-integroidut piirit
Paketti SOIC-6
Elinkaaren tila Aktiivinen

Tekniset ominaisuudet

Teknologia Kapasitiivinen kytkentä
Kanavien määrä 1
Jännite - Eristys 5000Vrms
Yhteismuodon transientti-immuniteetti (min) 100kV/µs
Etenemisviive tpLH / tpHL (max) 115ns, 115ns
Pulssinleveyden vääristymä (max) 35ns
Nousu / laskuaika (tyyp.) 28ns, 25ns (max)
Virta - Lähtö korkea, matala 4.5A, 5.3A
Virta - Huippulähtö 3A
Jännite - Myötäsuunta (Vf) (tyyp.) 2V
Virta - DC-myötäsuunta (If) (max) 25 mA
Jännite - Lähtösyöttö 13.2V ~ 33V
Luokka -
Hyväksyntä -
Käyttölämpötila -40 degC ~ 130 degC
Asennustyyppi Pintaliitos
Kotelo / tapaus 6-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Toimittajan laitekotelo 6-SOIC
Hyväksyntävirasto CQC, CSA, TUV, UL, VDE

Varastotiedot ja hinnoittelu päivitetään säännöllisesti. Tekniset tiedot on tarkoitettu suunnittelun tueksi.

Datasheet

Lataa PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles