P1012NXN2DFB NXP Semiconductors
P1012NXN2DFB NXP Semiconductors
NXP Semiconductors

P1012NXN2DFB - NXP Semiconductors Integrerade kretsar och chip

In stock
SKU: P1012NXN2DFB-TEPBGA-689
(0)
784,00 kr
När du har lagt en beställning kommer vårt säljteam att skicka en skriftlig bekräftelse på det slutliga priset, fraktkostnader och beräknad leveranstid. Importtullar, skatter, mäklaravgifter och andra destinationsavgifter är kundens ansvar. Vid behov kan vi bistå med tillgänglig produktinformation och tulldokument för importdeklaration; slutlig tullklarering och betalning förblir kundens ansvar.

P1012NXN2DFB

USB 2.0 + PHY(2) 800MHz L1/L2 CACHE 1 533MHz 32KB 1.5V, 1.8V, 2.5V, 3.3V DUART, I2C, MMC, SD, SPI 10Mbps, 100Mbps, 1Gbps 32bit PowerPC e500v2 ;QUICC TEPBGA-689

Tillgängligt lager: 1181TEPBGA-689Aktiv
TillverkareNXP Semiconductors
KapselTEPBGA-689
Lager1181
Standardförpackning2

Grundläggande information

Tillverkare NXP Semiconductors
Tillverkarens artikelnummer P1012NXN2DFB
IC-kategori Mikroprocessorer
Kapsel TEPBGA-689
Livscykelstatus Aktiv

Produktbeskrivning

USB 2.0 + PHY(2) 800MHz L1/L2 CACHE 1 533MHz 32KB 1.5V, 1.8V, 2.5V, 3.3V DUART, I2C, MMC, SD, SPI 10Mbps, 100Mbps, 1Gbps 32bit PowerPC e500v2 ;QUICC TEPBGA-689

Tekniska egenskaper

Matningsspänning 1.5V
Frekvens 800MHz
Kapsel BGA-689
Databussbredd 32-bit
Kringutrustning I2C, SPI, USB, MMC

Dokument

Visa datablad

Lager och priser uppdateras regelbundet. Tekniska data tillhandahålls för ingenjörsmässig referens.

Datablad PDF

Öppna datablad PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

Manufacturer names and logos are used for product identification and navigation. Their display does not imply authorization, affiliation or endorsement. Availability is confirmed per quotation.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles