MT25QL256ABA1EW7-0SIT - micron Minne (IC-kretsar)

In stock
Regular price 203,00 kr
Volymrabatter
QuantityUnit Price
1+19,96 kr
30+18,89 kr
När du har lagt en beställning kommer vårt säljteam att skicka en skriftlig bekräftelse på det slutliga priset, fraktkostnader och beräknad leveranstid. Importtullar, skatter, mäklaravgifter och andra destinationsavgifter är kundens ansvar. Vid behov kan vi bistå med tillgänglig produktinformation och tulldokument för importdeklaration; slutlig tullklarering och betalning förblir kundens ansvar.

Integrerad krets

MT25QL256ABA1EW7-0SIT TR

FLASH - NOR-minneskrets 256Mbit SPI 133MHz W-PDFN-8-EP(5x6)

I lager W-PDFN-8-EP(5x6) normal
Styckpris$19.9562
I lager
Tillverkaremicron
KapselW-PDFN-8-EP(5x6)
Lager2757
FörpackningTape & Reel (TR)

Grundläggande information

Tillverkare micron
Tillverkarens artikelnummer MT25QL256ABA1EW7-0SIT TR
Beskrivning FLASH - NOR-minneskrets 256Mbit SPI 133MHz W-PDFN-8-EP(5x6)
IC-kategori Minne (ICs)
Kapsel W-PDFN-8-EP(5x6)
Förpackning Tape & Reel (TR)
Standardförpackningskvantitet 4000
Tillgängligt lager 2757
Tillgänglighet I lager
Livscykelstatus normal

Nyckelspecifikationer

Spänning - matning 2.7V~3.6V
Minnesstorlek 256Mbit
Arbetstemperatur -40℃~+85℃
Programmerings-/raderingscykler 100,000 cykler
Klockfrekvens 133MHz
Egenskaper Skrivaktiveringsspärr;Hårdvaruskrivskydd;Mjukvaruskrivskydd;Absolut skrivskydd
Datalagring - TDR (år) 20 år

Tekniska attribut

Blockraderingstid (tBE) -
Skrivcykeltid (tWC) -
Sidprogrammeringstid (Tpp) -
Standby-matningsström -
Gränssnitt SPI

Dokument & tekniska resurser

Lager, ledtid och prissättning uppdateras regelbundet. Tekniska data tillhandahålls för teknisk referens.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles