MT25QU512ABB1EW9-0SIT - micron Minne (IC-kretsar)

In stock
Regular price 289,00 kr
Volymrabatter
QuantityUnit Price
1+28,48 kr
30+27,07 kr
När du har lagt en beställning kommer vårt säljteam att skicka en skriftlig bekräftelse på det slutliga priset, fraktkostnader och beräknad leveranstid. Importtullar, skatter, mäklaravgifter och andra destinationsavgifter är kundens ansvar. Vid behov kan vi bistå med tillgänglig produktinformation och tulldokument för importdeklaration; slutlig tullklarering och betalning förblir kundens ansvar.

Integrerad krets

MT25QU512ABB1EW9-0SIT

FLASH - NOR-minneskrets 512Mbit SPI 166MHz WPDFN-8(6x8)

I lager WPDFN-8(6x8) normal
Styckpris$28.4816
I lager
Tillverkaremicron
KapselWPDFN-8(6x8)
Lager305
FörpackningTape & Reel (TR)

Grundläggande information

Tillverkare micron
Tillverkarens artikelnummer MT25QU512ABB1EW9-0SIT
Beskrivning FLASH - NOR-minneskrets 512Mbit SPI 166MHz WPDFN-8(6x8)
IC-kategori Minne (IC-kretsar)
Kapsel WPDFN-8(6x8)
Förpackning Tape & Reel (TR)
Standardförpackningskvantitet 4000
Tillgängligt lager 305
Tillgänglighet I lager
Livscykelstatus normal

Nyckelspecifikationer

Spänning - matning 1.7V~2V
Minnesstorlek 512Mbit
Arbetstemperatur -40℃~+85℃
Program-/raderingscykler 100,000 cykler
Klockfrekvens 166MHz
Egenskaper Skrivaktiveringsspärr;Återställning vid påslagning;Hårdvaruskrivskydd;Mjukvaruskrivskydd;Absolut skrivskydd
Datalagring - TDR (år) 20 år

Tekniska attribut

Blockraderingstid (tBE) -
Skrivcykeltid (tWC) -
Sidprogrammeringstid (Tpp) 120us
Viloströmförbrukning -
Gränssnitt SPI

Dokument & tekniska resurser

Lager, ledtid och priser uppdateras regelbundet. Tekniska data tillhandahålls för teknisk referens.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles